1、現在使用されているもののほとんど（IEC、TUVシステムヒューズを参照）ヒューズaR（高速溶融とも呼ばれます）gG（低速溶融とも呼ばれます）gR（高速溶融とも呼ばれます）2つの文字は対応する意味を持ちますGホットメルトおよび短絡保護を意味し、短絡保護のみを意味します。 Rは半導体保護（速溶性と理解できます）、gは通常の保護、ワイヤー保護（遅溶性とも理解）です。
2.長所と短所
クラスA：小型、高速融点、ただしホットメルト保護なし、信頼性の高い遮断を保証するために一般に定格電流の4倍以上、ACおよびDC電圧は大きな電圧に達する可能性があります
クラスG：大容量、低速溶融、ホットメルト保護、全範囲の保護、ACを大きくすることができ、DC電圧は非常に小さい。
3.選択の提案：
a）gGヒューズは容量に関係なく使用でき、中国では一般的なNT / NHタイプが使用されています。 電圧は実際の電圧より低くてはいけません。 現在の選択I（実際）= 0.8〜0.9 * I（ヒューズ）*この温度での高温ディレーティング係数。 ただし、電圧が大きい場合は、このスキームを使用しないでください
b）電圧構成を検討し、このスキームを使用します。 ARヒューズがより一般的であり、電圧は実際の電圧より低くてはなりません。 現在の選択I（実際）= 0.6〜0.7 * I（ヒューズ）*この温度での高温ディレーティング係数（このスキームがより推奨されます）
上記の選択は従来の参照用であり、最初にその適応性を検証するために選択スキームをテストすることをお勧めします。
1.ヒューズの耐寒性（つまり、室温での抵抗）を測定します。
2.電源の両端間を2m間隔、1M間隔で10個のヒューズを直列に接続します。
3、1.05I（回路電流）（利用可能な1.1倍の信頼性を考慮）までの最も厳しい環境温度で1時間、次に0.1時間の通行不能電流、100サイクル、ヒューズが溶断しないか、低温状態の抵抗変化値が以下長時間の電力が実現可能であることを考慮すると、10％。
インパルス電流については、最初にインパルス電流IとT（Aと表記）の積分を計算し、次にヒューズのフロントアークI2T（仕様では一般にpreI2Tと呼ばれ、Bと表記）を比較します。 A=50％Bの場合、衝撃の数は約100回、A=1 / 3bの場合は約1000回、A=0.25bの場合は数千回と見なします。 同様に、実際の衝撃寿命は、低温状態での抵抗変化値が10％未満であると計算され、衝撃時間は寿命の要件を満たします。